Microscopios de Fuerza Atómica Park NX10 y Park NX12 de PARK SYSTEMS
Park Systems crea la línea más exacta de la industria de microscopía en nanoescala y herramientas de metrología para investigación y aplicaciones industriales. Nuestras características innovadoras, tales como modo de True-Non Contact™ y automatización avanzada, ponen a nuestros productos en un nivel muy lejos de la competencia y hace que los AFM de Park Systems sean los AFM más fáciles de usar y más avanzados.
Park Systems ofrece una gama amplia de AFM para la investigación general y aplicaciones industriales. Diseñados para ser extremadamente versátiles, a la vez que proporcionar la precisión y funcionalidad necesaria para realizar trabajos de alta calidad, nuestra línea de AFM generales ofrece por igual a los investigadores e ingenieros la capacidad de tener resultados extremadamente precisos rápida y fácilmente.
A continuación presentamos en detalle las características y ventajas el Park NX10, el AFM de Investigación más preciso y de más fácil uso del mundo y del Park NX12, la plataforma AFM más versátil para sus necesidades microscópicas a nanoescala.
PARK NX10.
El Microscopio de Fuerza Atómica más Eficiente
El Park NX10 produce datos en los que puede confiar, replicables y publicables con la máxima resolución nanométrica. Presenta el inigualable modo True Non-Contact™, el cuál prolonga la vida útil de la punta y preserva su muestra al mismo tiempo, sus escáneres independientes basados en flexión para los ejes XY y Z proporcionan una incomparable resolución y precisión.
Una mayor precisión significa una mayor productividad
Desde la colocación de las muestras hasta la imagenología, medidas y análisis de escaneo completo, el Park NX10 le ahorra tiempo en cada paso del camino. La interface, sencilla y fácil de usar, el sencillo alineamiento del láser, el enfoque automático de la punta, y software de procesamiento le permiten obtener rápidamente resultados publicables.
Una mayor precisión significa una mejor investigación
Con más tiempo y mejores datos usted puede concentrarse en hacer más investigaciones innovadoras. Y el amplio rango de modos de medición y diseño personalizables del Park NX10 significa que puede ser fácilmente adaptado a los proyectos más singulares.
Características avanzadas para el trabajo de investigación innovador
Preciso escaneo XY gracias a la eliminación de interferencias
- Dos escáneres de flexión independientes, de bucle cerrado XY y Z para la muestra y punta de la sonda.
- Escaneo XY plano y ortogonal con bajo arco residual.
- Movimiento fuera de plano de menos de 1 nm en todo el rango de exploración completo.
- Desviación lineal del escáner Z menor al 0.015% en un rango completo de escaneado.
- Precisas mediciones de altura, sin necesidad de procesamiento del software.
Precisa topografía de AFM con detector de bajo nivel de ruido Z
- Topografía de la muestra medida por el detector de bajo nivel de ruido Z líder de la industria.
- True Sample Topography™ sin errores de sobrepase del borde ni de deslizamiento de la muestra.
- Preciso registro de la altura de la superficie, incluso durante el escaneado a alta velocidad.
- Ruido disminuido del escáner XY gracias a un algoritmo de escaneado de seno directo.
- Escaneo hacia adelante y atrás líder de la industria con una brecha de menos de 0,15%.
Mayor vida de la punta, mejor resolución y preservación de las muestras gracias al modo True Non-Contact™
- Ancho de banda del escáner Z de más de 9 kHz líder de la industria.
- La mayor velocidad de Z-servo con más de 62 mm/seg de velocidad de la punta.
- Menor desgaste de la punta para obtener imágenes de alta calidad y resolución durante mayor tiempo.
- Daño o modificación de la muestra minimizados.
- Inmune de resultados parámetro dependientes observados en el aprovechamiento de imágenes.
La solución AFM más completa y extensible
- La más amplia gama de modos de SPM (Microscopía de Barrido por Sondeo).
- El mayor número de opciones de medición de muestras.
- La mejor opción de compatibilidad y capacidad de actualización de la industria.
- Electrónica digital de 24 bits con tres lock-ins internos, Control Q y calibración constante de los resortes.
- Control activo de la temperatura activa del gabinete acústico.
Mayor Comodidad del usuario Gracias a su Diseño
- Acceso lateral abierto para facilitar el intercambio de muestras o puntas.
- Alineamiento láser fácil e intuitivo con montaje de puntas pre alineadas.
- Fácil remoción del cabezal, gracias al montaje bloqueante en forma de cola de Milano.
- Visión óptica desde arriba en eje de escaneo, para una visualización óptica de alta resolución.
- Aproximación automática rápida de la punta a la superficie de la muestra en un lapso de 10 segundos.
Park NX10. Tecnología AFM
Escaneo Plano Ortogonal XY Sin Arco de Escáner
La eliminación de interferencias de Park elimina el arco del escáner, permitiendo el escaneo de planos ortogonales XY independientemente de la ubicación, velocidad y tamaño de escaneo. No muestra ninguna curvatura de fondo, incluso con las muestras más planas, como un plano óptico, o diversos desplazamientos de escaneo. Esto le proporciona una medición muy precisa de la altura y nanometrología de precisión para los problemas más difíciles en investigación e ingeniería.
Escaneos Independientes XY y Z
La diferencia fundamental entre Park y su competidor más cercano está en la arquitectura del escáner. El inigualable diseño con escáneres independientes basados en flexión XY y Z de Park permite una precisión de datos de nano resolución sin precedentes en la industria.
Medición Precisa de la Superficie
¡La superficie “plana” de la muestra se observa tal como es!
- Bajo arco residual.
- No necesita procesamiento de software (datos en bruto).
- Resultados menos dependientes de la ubicación del escaneo.
Detector de bajo nivel de ruido Z líder de la industria
Nuestros AFM están equipados con los más eficaces detectores de bajo nivel de ruido Z de la industria, con un ruido de .02 nm por sobre el ancho de banda más amplio.
Esto produce una topografía de la muestra altamente precisa, no hay rebase del borde ni tampoco necesidad de calibración. Esta es sólo una de las muchas maneras en las que el Park NX10 le ahorra tiempo y le brinda mejor información.
Park NX10. Equipado con innovadora tecnología AFM
- Escáner 2D guiado por flexión con rango de escaneo de 50 µm x 50 µm
El escáner XY consiste en pilas piezoeléctricas simétricas de alta fuerza de flexión bidimensional, que proporcionan alto movimiento ortogonal con un mínimo movimiento fuera de plano, así como una alta capacidad de respuesta, que es esencial para un preciso escaneo de las muestras en una escala nanométrica. La estructura rígida y compacta del Park NX10 produce poco ruido, así como una alta velocidad de respuesta del servo.
- Escáner guiado por flexión de alta fuerza Z con rango de escaneo de 15 µm
Impulsado por pilas piezoeléctricas de alta fuerza y guiado por una estructura de flexión, el escáner Z estándar posee una alta frecuencia de resonancia de más de 9 kHz (típicamente 10.5 kHz) y una velocidad ultra rápida del Z-servo de más de 48 mm/seg de velocidad de la punta. El máximo rango de escaneo Z puede extenderse desde 15 µm a 30 µm mediante el uso del escáner Z de largo alcance.
- Sensores de posición XY y Z con bajo ruido
El detector Z de bajo ruido líder de la industria reemplaza al voltaje Z aplicado de la señal de topografía mientras el escaneo de bucle cerrado de bajo ruido XY minimiza la brecha del escaneo delantero y posterior a menos de 0.15% de la gama del escaneo.
- Posicionamiento motorizado XY de la muestra
La ubicación de la medición de la muestra se controla fácilmente mediante el posicionamiento manual XY integrado. El rango de movimiento de posicionamiento XY de la muestra es de 20 mm x 20 mm.
- Automatización y escaneo paso a paso
Usando el posicionamiento motorizado de la muestra, el paso y escaneo permite imágenes
programables de múltiples regiones. A continuación le explicamos cómo funciona:
- Escanear una imagen
- Levantar cantiléver
- Mover la platina motorizada a las coordenadas definidas por el usuario
- Aproximación
- Repetir el escaneo
Esta función automática aumenta enormemente la productividad mediante la reducción de la necesidad de la interacción del usuario en el proceso de escaneo.
- Contenedor de muestras accesible
El diseño único del cabezal del Park NX10 puede manejar muestras de un tamaño de hasta 50 mm x 50 mm x 20 mm (ancho x largo x altura), permite un fácil acceso lateral a la muestra y la punta.
- Ranura de expansión para los modos y opciones avanzados de SPM
Los modos avanzados de SPM se activan fácilmente conectando un módulo opcional en la ranura de expansión, asimismo, el diseño modular de la serie NX permite la compatibilidad del módulo a lo largo de la línea.
- Visión de alto poder directamente desde arriba en el eje de escaneo con Iluminación LED integrada
El diseño especial de los lentes del objetivo del Park NX10 permiten una muy larga distancia de trabajo (50 mm, WD 0.21 NA, 1.0 µm de resolución) proporciona una visión directamente desde arriba del eje de escaneo con una claridad sin precedentes. Esto permite que los usuarios naveguen fácilmente por la superficie de la muestra, y encontrar rápidamente el área objetivo. Con el lente EL20x del objetivo del cabezal de largo recorrido, el tamaño agrandado del sensor del CCD proporciona una resolución de 0.7 µm sin pérdida de calidad visual.
- Enganche automático gracias al cabezal SLD que se desliza para conectarse
El cabezal AFM se inserta o retira fácilmente deslizándolo a lo largo de un carril en forma de cola de Milano. Esto bloquea automáticamente la cabeza en su posición pre-alineada y lo conecta a la electrónica de control, con una repetividad del posicionamiento de unas cuantas micras. La baja coherencia del Diodo Superluminescente (SLD) permite la precisa formación de imágenes en superficies altamente reflectantes y medidas exactas piconewton para la espectroscopia de fuerza-distancia. La longitud de onda SLD elimina los problemas de interferencia para los usuarios interesados en combinar la AFM con experimentos en el espectro visible.
- Etapas motorizadas de alineación vertical Z y de enfoque
La etapa de alineación Z y de enfoque acopla el cantiléver con la superficie de la muestra manteniendo constantemente un campo de visión clara para el usuario. Y debido a que la etapa de enfoque es motorizada y controlada por software, tiene la precisión necesaria para manejar muestras transparentes y aplicaciones de celdas líquidas.
Electrónica de Alta Velocidad de 24 bits
Todos los AFM de la serie NX son controlados y sus procesos usan el mismo controlador de electrónica NX. El controlador es completamente digital, con electrónica de alta velocidad de 24 bits la cual lleva a cabo con éxito el modo True Non-Contact™ para una mayor exactitud y velocidad. Con su diseño de bajo ruido y la unidad de procesamiento de alta velocidad, el controlador también es ideal para la precisa medición de la tensión y corriente así como para imagenología de nanoescala. La capacidad de procesamiento de señal digital incorporada se suma a la funcionalidad y economía de nuestras soluciones AFM para los investigadores avanzados.
Resolución de señal de 24 bits para los detectores XY y Z
- Resolución de 0.003 nm en XY (50 µm XY)
- Resolución de 0.001 nm en Z (15 µm Z)
Capacidad incorporada de procesamiento de señales digitales
- 3 canales de cierres digitales flexibles
- Calibración constante de los resortes (método térmico)
- Control digital Q incluido
Puestos de acceso a las señales integrados
- Puertos de entrada / salida de señales dedicados y programables
- 7 puertos de entrada 3 puertos de salida
Rapidísimo Enfoque Automático de las Puntas
Nuestro enfoque de aproximación automática de la punta a la muestra no requiere intervención del usuario y está listo en tan solo 10 segundos después de haber cargado el cantiléver. Al monitorizar la respuesta del cantiléver a la superficie de aproximación, el Park NX10 puede iniciar una aproximación automática de la punta a la muestra luego de tan solo 10 segundos de que se cargue el cantiléver. La rápida respuesta del escáner Z de alta velocidad y señal de procesamiento de bajo ruido del controlador electrónico del NX permite un rápido acercamiento a la superficie de la muestra sin ninguna intervención del usuario. Simplemente funciona, requiriendo de una participación mínima del usuario.
Control activo de la temperatura del recinto acústico
Diseñado exclusivamente para el Park NX10, el recinto acústico está controlado activamente por temperatura para contar con un ambiente termal perfectamente estable. Asimismo, el Park NX10 también presenta aislamiento activo de las vibraciones y está completamente aislado de los ruidos externos y ligeros, de manera que nada pueda interferir con su precisión.
- Controles fáciles de usar: El innovador diseño de sus controles permite que el Park NX10 alcance rápidamente su temperatura de equilibrio
- Comienza a escanear rápido: Presenta una estabilidad térmica con una variación menor de 0.05 ºC luego de 10 minutos de haber cerrado la puerta del recinto acústico
Park NX10. Adaptable a cualquier proyecto
El amplio rango de modos de escaneo y el diseño modular de la serie NX le permite ser fácilmente adaptado a las necesidades de cualquier proyecto de microscopía de sonda de barrido.
Estándar de Imagenología
- AFM True Non-Contact
- AFM de Contacto Básico
- Microscopía de Fuerza Lateral (LFM)
- Imagenología de Fase
- AFM intermitente (repiqueteo)
Propiedades Químicas
- Microscopía de Fuerza Química con punta funcional
- Microscopía Electroquímica (EC-STM y EC-AFM)
Propiedades Térmicas
- Microscopía Térmica de Barrido (SThM)
Propiedades Eléctricas
- AFM Conductivo
- Espectroscopia I-V
- Microscopía de Sonda Kelvin de Barrido (SKPM/KPM)
- SKPM con Alto Voltaje
- Microscopía de Barrido Capacitancia (SCM)
- Microscopía de Difusión de Barrido Resistencia (SSRM)
- Microscopía de Efecto Túnel (STM)
- Espectroscopia de Efecto Túnel (STS)
- Mapeo de Fotocorriente de Resolución Temporal (Tr-PCM)
Propiedades Ópticas
- Espectroscopia Raman de Punta Mejorada (TERS)
- Mapeo de Fotocorriente de Resolución Temporal (Tr-PCM)
Propiedades Magnéticas
- Microscopía de Fuerza Electrostática (EFM)
- MFM Ajustable
Propiedades Dieléctricas / Piezoeléctricas
- Microscopía de Fuerzas Piezoeléctricas (PFM)
- EFM de Modo Dinámico (DC-EFM)
- Microscopía de Fuerza Magnética (MFM)
- PFM con Alto Voltaje
Propiedades Mecánicas
- Microscopía de Modulación de Fuerza (FMM)
- Nanoindentación
- Nanolitografía
- Nanolitografía con Alto Voltaje
- Nanomanipulación
- Microscopía de Fuerza por Piezorespuesta (PFM)
Medición de Fuerza
- Espectroscopia de Fuerza – Distancia (F-D)
- Imagenología Fuerza Volumen
- Calibración Constante del Resorte con el Método Térmico
Opciones
Cabezales de Escáner Z
- Cabezal de escáner Z 15 µm
- Cabezal de escáner Z 30 µm
- Amplio acceso óptico desde el lado
Escáneres XY
- Escáner XY 10 µm x 10 µm
- Escáner XY 50 µm x 50 µm
- Escáner XY 100 µm x 100 µm
Control de Temperatura
- Etapas de Calentamiento y enfriamiento (0~180 ºC)
- Etapa de Calentamiento 250 ºC
- Etapa de Calentamiento 600 ºC
Celdas Líquidas
- Celda Líquida Universal
- Celda Electroquímica
- Celda Líquida Abierta
Sonda Manual para Líquidos
- Diseñada para producir imágenes en el entorno general de líquidos
- Resistente a la mayoría de las soluciones buffer, incluyendo las ácidas
- Imágenes AFM en líquido de contacto y no contacto
Portador de Chips Tipo Clip
- Puede ser usado con un cantiléver sin montar
- Función de polarización de la punta disponible para AFM Conductivo y EFM
- Rango de polarización de la punta: -10 V ~ 10 V
Generador de Campo Magnético
- Aplicación de campo magnético externo paralelo a la superficie de la muestra
- Campo magnético ajustable
- Rango: -300 ~ 300 gauss
- Compuesto de núcleo de hierro puro y dos bobinas solenoides
Park NX10. Especificaciones
Escáner
Escáner XY. Escáner de Módulo Simple de flexión XY con control de bucle cerrado
Rango de escaneo: 50 µm × 50 µm (opcional 10 µm × 10 µm o 100 µm × 100 µm)
Resolución: 0.05 nm
Detector de ruido de posicionamiento: < 0.25 nm (ancho de banda: 1 kHz)
Movimiento fuera de plano: < 2 nm (en 40 µm de escaneo)
Escáner Z
Escáner guiado con alta fuerza de flexión
Rango de escaneo: 15 µm (opcional 30 µm)
Resolución: 0.015 nm
Detector de ruido de posicionamiento: 0.03 nm (ancho de banda: 1 kHz)
Frecuencia de resonancia: > 9 kHz (típicamente 10.5 kHz)
Ruido de topografía: < 0.03 nm (típicamente 0.02 nm)
Visión
Visión óptica directa desde arriba en el eje de escaneo de la muestra y cantiléver
Campo de visión: 480 × 360 µm (junto con lentes de objetivo 10×)
CCD: 1 Megapíxel (resolución de píxel: 0.4 µm)
Lentes del Objetivo
10x (0.21NA) lentes para una distancia de trabajo ultra-larga (resolución de 1µm)
20x (0.42 NA) lentes de alta resolución para una larga distancia de trabajo (resolución de 0.6 µm)
Electrónica
Procesamiento de la señal
DAC: 18 canales
4 canales de alta velocidad ADC (50 MSPS)
DAC de 24 bits para las posiciones X, Y y Z del sensor del escáner
DAC: 12 canales
2 canales DAC de alta velocidad (50 MSPS)
DAC de 20 bits para el posicionamiento de los escáneres X, Y y Z
Tamaño máximo de datos: 4096 x 4096 píxeles
Park NX12
La plataforma AFM más versátil para sus necesidades microscópicas a nanoescala
Este Microscopio de Fuerza Atómica para adquisición de imagen a resolución nanométrica, tiene una capacidad de medición de propiedades eléctricas, magnéticas, térmicas y mecánicas.
Sistema de escaneo con pipetas, para alta resolución de Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)
Microscopio óptico invertido (IOM, por sus siglas en inglés) para investigación con materiales transparentes e integración de microscopio fluorescente.
La plataforma perfecta para la electroquímica fundamental
El estudio de la electroquímica de baterías, celdas de combustibles, y sensores, es un campo que está creciendo rápidamente. Aun así, muchos microscopios AFM no satisfacen directamente sus necesidades especiales.
El microscopio Park NX12 ofrece la funcionalidad y flexibilidad que los investigadores químicos necesitan, dándoles una plataforma simple y fácil de usar, con todas las herramientas que necesitan, incluyendo:
- Celdas electroquímicas versátiles y fáciles de usar.
- Opciones de control ambiental para gas y humedad interna.
- Compatibilidad para bi-potentiostato.
Los investigadores pueden utilizar la plataforma Park NX12 para varias aplicaciones electroquímicas:
- Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
- Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM)
- Electrochemical Atomic Force Microscopy (EC-AFM) y Electrochemical Scanning Tunneling Microscopy (EC-STM)
Fácil acceso óptico con la platina de enfoque motorizada
El sistema permite un acceso óptico a la sonda durante las mediciones, desde la parte superior, lateral e inferior, y desde distintos ángulos. Este extenso acceso óptico, combinado con el diseño modular del dispositivo, también le permite adicionar complementos ópticos o nano ópticos.
El microscopio Park NX12 acopla la versatilidad y precisión del microscopio Park AFM con una platina de muestras para el microscopio óptico invertido. Esto permite a los usuarios inicializar técnicas usando pipetas y trabajar con muestras que son transparentes u opacas, y suaves o duras.
Hecho para instalaciones compartidas
El microscopio NX12 fue construido desde el principio para satisfacer las necesidades de instalaciones compartidas. Las soluciones que brindan otros microscopios AFM no tienen la versatilidad requerida para poder suplir las diversas necesidades de los usuarios en este tipo de instalaciones, haciendo que su precio no sea justificable. El microscopio Park NX12 está construido para ajustarse a ambientes estándares AFM, SPM en líquido, adquisición de imagen ópticas y nano-ópticas, haciéndolo uno de los microscopios AFM más versátiles del mercado.
Una plataforma modular para instalaciones de uso compartido
- El microscopio Park NX12 es una plataforma AFM específicamente adaptada para suplir las necesidades de investigadores analíticos y electroquímicos, así como para otros usuarios que trabajan en instalaciones de uso común.
- Provee una solución versátil para caracterizaciones de SPM de propiedades químicas y electroquímicas, caracterizaciones de superficie para medios en aire y líquido para un amplio rango de materiales opacos y transparentes.
- El microscopio Park NX12 es fácil de usar para técnicas SPM con uso de pipetas, teniendo un amplio acceso visual óptico a la sonda de escaneo.
- El precio accesible y precisión inigualable del microscopio Park NX12, lo hace la plataforma ideal para instalaciones.
Aplicaciones múltiples
El microscopio Park NX12 da servicio a un amplio rango de funciones, incluyendo el modo PinPoint™ en líquido y mapeo nano mecánico, el microscopio óptico invertido para localización de muestras transparentes, el SICM para adquisición de imagen de muestras ultra-delicadas, y una vista aumentada para mejorar la óptica de muestras transparentes.
Celda de fluidos universal Plataforma temperatura
Una solución para espectroscopia de fuerza
El microscopio Park NX12 provee un paquete completo para caracterización nano mecánica en líquido y en aire, haciéndolo ideal para un amplio rango de aplicaciones.
Modular
Hacemos que el microscopio Park NX12 sea fácil de modificar para cubrir las necesidades únicas de su laboratorio, pudiendo instalar actualizaciones opcionales de hardware y software.
Un Sistema Operativo AFM para todos, desde principiantes hasta expertos
Ya sea que sus necesidades AFM estén centradas en investigación académica, metrología industrial o análisis de fallo, el modo Automático de SmartScan™ ofrece un sistema eficiente para generar datos publicables AFM de alta calidad. Más aún, SmartScan™ promete sesiones productivas con un microscopio AFM, incluso para principiantes, para obtener datos de calidad tan buenos como los de un experto, todo esto, en mucho menor tiempo.
PARK SYSTEMS
Producimos los AFM más precisos y fáciles de usar
Hace más de un cuarto de siglo, en la Universidad de Stanford se sentaron las bases para Park Systems. Allí el Dr. Sang-Il Park, fundador de Park Systems trabajó como parte integrante del grupo que desarrolló por primera vez la tecnología AFM (Microscopía de Fuerza Atómica por sus siglas en Inglés). Después de perfeccionar la tecnología, luego pasó a crear el primer AFM comercial y más adelante nació Park Systems.
Cada día Park Systems se esfuerza por vivir a la altura del espíritu innovador de sus inicios. A lo largo de nuestra larga historia, hemos honrado nuestro compromiso de ofrecer los AFM más precisos y además muy fáciles de usar, con características revolucionarias como el modo True Non-Contact™, y varias funciones automatizadas.
Simplemente, no estamos contentos con dormirnos en nuestros logros del pasado. Todos nuestros productos son diseñados con el mismo cuidado y creatividad, que pusimos en el primero, permitiéndole que se concentre en obtener resultados sin tener que preocuparse por la integridad de sus herramientas.
